Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Adam, W.; Nash, K.; Brom, J. M.; Tan, P.; Boegelspacher, F.; Beernaert, K.; Hobson, P.; Chiorboli, M.; Kyriacou, S.; Colombo, F.; Bosi, F.; Hoffmann, M.; Combaret, C.; Mittag, G.; Santocchia, A.; Lustermann, W.; Moggi, A.; Biskop, H.; Leonardi, R.; Harb, A.; Kahlid, F.; Kuensken, A.; Speer, T.; Stahl, A.; Loddo, F.; Perozzi, L.; Frühwirth, R.; Rivera, R.; Hindrichs, O.; Quertenmont, L.; Johns, W.; Burt, K.; Meschini, M.; Tenchini, R.; Grundler, U.; Soffi, L.; Zwalinski, L.; Garay Garcia, J.; Lipton, R.; Demaria, N.; Vichoudis, P.; Demina, R.; Cichy, K.; Spiga, D.; Grippo, M. T.; Beliy, N.; Clercq, J.; Francois, B.; Franco, M.; Garutti, E.; Yates, B. R.; Pozzobon, N.; König, A.; Krohn, M.; Spannagel, S.; Vannerom, D.; Traversi, G.; Ciaranfi, R.; Gallbit, G.; Tromson, D.; Ricci-Tam, F.; Klanner, R.; Eckerlin, G.; Swanson, J.; Matysek, M.; Rivetti, A.; D'Hondt, J.; Deiters, K.; Alunni Solestizi, L.; Hahn, K.; Asenov, P.; Wlochal, M.; Ellison, J.; Xiao, M.; Daubie, E.; Stupak, J.; Chen, X.; Lipinski, M.; Heintz, U.; Parker, A.; Fehling, D.; Vanlaer, P.; Perera, L.; Friedl, M.; Mullin, S.; Taylor, R.; Vasey, F.; Lange, C.; Peisert, A.; Pooth, O.; Hosselet, J.; Mazza, G.; Russo, L.; Ciampa, A.; Giammanco, A.; Ryd, A.; Re, V.; Hansen, K.; Bisello, D.; Anagnostou, G.; Gadek, T.; Marchioro, A.; Ecklund, K. M.; Preuten, M.; Sellberg, G.; Djambazov, L.; Silvestris, L.; Raymond, D. M.; Haller, J.; Brun, H.; Piotrzkowski, K.; Musich, M.; Abbaneo, D.; Ostapchuk, A.; Brochet, S.; Ramirez Vargas, J. E.; Manzoni, R. A.; Hart, A.; Bakhshiansohl, H.; Weiler, Th.; Derylo, G.; Solano, A.; Wellhausen, J.; Antonelli, L. J.; Swartz, M.; Leontsinis, S.; Daguin, J.; Conway, J.; Härkönen, J.; Sala, G.; Dutta, V.; Andrea, J.; Delannoy, H.; Perloff, A.; Johnson, A.; Feld, L.; Bean, A.; Krintiras, G.; Asawatangtrakuldee, C.; Jaramillo Echeverria, R.; Marionneau, M.; Walker, M.; Tuominen, E.; Parashar, N.; Rinkevicius, A.; Pierschel, G.; Luetic, J.; Heindl, S.; My, S.; Marono, M. Vidal; Ratti, L.; Dittmer, S.; Charles, L.; Covarelli, R.; Starodumov, A.; Lomtadze, T.; Gershtein, Y.; Karapostoli, G.; Shi, X.; Postema, H.; Harrington, C.; Canepa, A.; Donega, M.; Caratelli, A.; Contardo, D.; Rohe, T.; Siado, J.; Steck, P.; Horisberger, R.; Spagnolo, P.; Donato, S.; Mulders, P.; Cremaldi, L. M.; Chiochia, V.; Donckt, M.; Honma, A.; Zuber, A.; Cussans, D.; Boer, W.; Focardi, E.; Langenegger, U.; Manghisoni, M.; Orfanelli, S.; Luukka, P.; Caminada, L.; Martinez Ruiz del Arbol, P.; Behnamian, H.; Fanò, L.; Zabel, J.; Cheung, H. W. K.; Lei, C. M.; Python, Q.; Ravera, F.; Majumder, D.; Lowette, S.; Hoch, M.; Jafari, A.; Gonzalez Suarez, R.; Lapsien, T.; Fasanella, G.; Peltola, T.; Troska, J.; Venturi, A.; Hou, W. S.; Taroni, S.; Sharma, V.; Kornmayer, A.; Tricomi, A.; Kyriakis, A.; Olmedo, M.; Nahn, S.; Caudron, A.; Seva, T.; Reichelt, O.; Norberg, S.; Albergo, S.; Verdini, P. G.; Viliani, L.; Auzinger, G.; Lenzi, P.; Hall, G.; Muhl, C.; Comotti, D.; Tao, Z.; Frank, N.; Halkiadakis, E.; Canio, F.; Hits, D.; Gennai, S.; Martini, L.; Assiouras, P.; Buhmann, P.; Cariola, P.; Mulholland, T.; Bacchetta, N.; Michotte, D.; Eichhorn, T.; Raffaelli, F.; Grebenyuk, A.; Boccali, T.; Lenoir, P.; Bloom, K.; Gill, K.; Grünendahl, S.; Rauch, M.; Dierlamm, A.; Cappello, G.; Visscher, S.; Nodari, B.; Kilminster, B.; Kharchilava, A.; Komm, M.; Mussgiller, A.; Léonard, A.; Brondolin, E.; Aldaya, M.; Zhu, D.; Nelson, J.; Trovato, M.; Skinnari, L.; Mankel, R.; Moortgat, S.; Deroover, K.; McDermott, K.; Lo Vetere, M.; Kovacs, M.; Marconi, S.; Riceputi, E.; Walsh, R.; Goldouzian, R.; Liu, T.; Tuovinen, E.; Robutti, E.; Petrucciani, G.; Bellan, R.; Passeri, D.; Acosta, J. G.; Dupasquier, T.; Yagil, A.; Tran, N.; Menichelli, M.; Kudella, S.; Goldstein, J.; Fiorendi, S.; Harder, K.; Malvezzi, S.; Los, S.; Fedi, G.; Maier, R.; Baringer, P.; Ranjan, K.; Kyre, S.; Perieanu, A.; Deptuch, G.; Kotlinski, D.; Bagliesi, G.; Bloch, D.; Ferro, F.; Sevova, S.; Palmonari, F.; Tucker, J.; Hofman, D. J.; Viret, S.; Blanchot, G.; Hinton, N.; Gentsos, C.; Lohmann, W.; Osipenkov, I.; Agram, J. L.; Tuuva, T.; Conway, R.; Dragicevic, M.; Canelli, F.; Jain, G.; Apresyan, A.; Bonnin, C.; Keaveney, J.; Gingu, C.; Kornmeyer, A.; Watson-Daniels, J.; Veszprémi, V.; Petagna, P.; Bortoletto, D.; Grab, C.; Clerbaux, B.; Johnson, M.; Zhukov, V.; Bruyn, I.; Bruno, G.; D'Angelo, P.; Kalogeropoulos, A.; Simonis, H. J.; Potenza, R.; Tuve, C.; Christiansen, J.; Ligabue, F.; Pacher, L.; Jara Casas, L. M.; Ciocci, M. A.; Tropea, P.; Ciulli, V.; Placidi, P.; Monroy, J.; Baulieu, G.; D'Alessandro, R.; Saha, A.; Chu, J.; Casal, B.; Robmann, P.; Fontaine, J.-Ch.; Azzurri, P.; Wang, Q.; Erdmann, W.; Bartz, E.; Mechelen, P.; Gaioni, L.; Eusebi, R.; Lemaitre, V.; Gritsan, A.; Menasce, D.; Meier, B.; Schmidt, A.; Hoff, J.; Albert, E.; Postiau, N.; Junkes, A.; Morsani, F.; Manoni, E.; Hreus, T.; Rappoccio, S.; Lauwers, J.; Lu, R. S.; Ford, W. T.; Vormwald, B.; Paspalaki, L.; Bergauer, T.; Pinna, D.; Osherson, M.; Jones, M.; Pellett, D.; Hartmann, F.; Detraz, S.; Hugo, G.; Abbas, M.; Roeser, U.; Scarlini, E.; Beghin, D.; Tavolaro, V.; Bartek, R.; Khakzad, M.; Wagner, S. R.; Steininger, H.; Si, W.; Arezzini, S.; Alderweireldt, S.; Storchi, L.; Zhang, F.; Cosa, A.; Pavis, S.; Costa, S.; Ahmed, I.; Azzi, P.; Palla, F.; Kilpatrick, M.; Lath, A.; Makauda, S.; Basti, A.; Centis-Vignali, M.; Ceresa, D.; Prosser, A.; CMS Collaboration; D'Auria, A.; Dondelewski, O.; Castaldi, R.; Hasegawa, S.; Kottelat, L.; Dominguez, A.; Bolla, G.; Barth, Ch.; Becker, R.; Schleper, P.; Casele, M.; Galloni, C.; Dietz, C.; Berruti, G.; White, D.; Hauk, J.; Fluegge, G.; Dall'Osso, M.; Mersi, S.; Ciangottini, D.; Bertsche, D.; Migliore, E.; Tersegno, D.; Akgün, B.; Sonneveld, J.; Strom, D.; Gross, L.; Ivanov, A.; Garabedian, A.; Mirman, N.; Mendis, R.; Tonelli, G.; Savitskyi, M.; Gonzalez Sanchez, F. J.; Schwandt, J.; Da Rocha Rolo, M.; Palma, M.; Nguyen, D.; Merkel, P.; Thom, J.; Shenai, A.; Salvati, E.; Summers, D.; Stone, R.; Weber, M.; Parijs, I.; Dalal, R.; Creanza, D.; Schnetzer, S.; Khalil, S.; Szilasi, N.; Caponetto, L.; Hrycyk, M.; Sung, K.; Messineo, A.; Waltenberger, W.; Fangmeier, C.; Bainbridge, R.; Flacher, H.; Borrello, L.; Alyari, M.; Paoletti, S.; Pistone, C.; Hoss, J.; Boudoul, G.; Loukas, D.; Vartak, A.; Lumb, N.; Dauncey, P.; Civinini, C.; Conte, E.; Freund, B.; Butler, J. N.; Squires, M.; Mazzoni, E.; Onnela, A.; Ngadiuba, J.; Brianzi, M.; Dolen, J.; Gallo, E.; Bondu, O.; Cumalat, J. P.; Ennesser, L.; Faccio, F.; Hanson, G.; Selvaggi, G.; Pedrini, D.; Maksimovic, P.; Bhardwaj, A.; Mertens, A.; Jindariani, S.; Biasini, M.; Tomalin, I. R.; Uplegger, L.; Eckstein, D.; Meinhard, M.; Karpinski, W.; Claes, D. R.; Alexander, J.; Gerosa, R.; Rizzi, A.; Moreels, L.; Giordano, F.; Jacob, J.; Hill, C. S.; Lampén, T.; Bianchi, G.; Stenson, K.; Christian, D.; Zeid, S. Abu; Morton, A.; Dellacasa, G.; Sagir, S.; Fiore, L.; Dinardo, M. E.; Hammad, G. H.; Janssen, X.; Husemann, U.; Wertz, S.; Savoy-Navarro, A.; Maser, H.; Roozbahani, B.; Bachmair, F.; Coughlan, J. A.; Bonnaud, J.; Delcourt, M.; Patterson, A.; Yohay, R.; Yang, Y.; Thomson, J.; Skhirtladze, N.; Alimena, J.; Oliveros, S.; Morozzi, A.; Mantovani, G.; Berry, D. R.; Scharf, Ch.; Schulz, J.; Moroni, L.; Amsler, C.; Flores, C.; Autermann, C.; Chabert, E.; Haranko, M.; Magitteri, A.; Amstutz, C.; Rossi, A.; Favart, L.; Moscatelli, F.; James, T.; Wallny, R.; Francis, B.; Calafiori, D.; Steinbrück, G.; Bertl, W.; Mariani, V.; Muller, Th.; Schneider, B.; Berger, P.; Howell, J.; Hoad, C.; Wilson, G.; Lentdecker, G.; Kropivnitskaya, A.; Perries, S.; Bösiger, K.; Pernot, J. F.; Schomakers, C.; Martin, C.; Mirabito, L.; Krammer, M.; Cole, J.; Robertis, G.; Zientek, M.; Pesaresi, M.; Bilei, G. M.; Perrey, H.; Schuetze, P.; Tosi, M.; Masciovecchio, M.; Kleinwort, C.; Michelis, S.; Barvich, T.; Caebergs, T.; Petrillo, G.; Magazzu, G.; Ilic, J.; Deyrail, D.; Malik, S.; Barbagli, G.; Grimes, M.; Mattia, A.; Spiegel, L.; Pitzl, D.; Bubna, M.; Qu, H.; Eerola, P.; Costa, M.; Ulmer, K. A.; Jensen, F.; Evdokimov, A.; Evdokimov, O.; Burkett, K.; Incandela, J.; Lopes De Sá, R.; Gomez, G.; Gerber, C. E.; Schael, S.; Skovpen, K.; Monteil, E.; Mangano, B.; Delaere, C.; Matulik, M.; Saizu, M. A.; Godshalk, A.; Seif El Nasr-Storey, S.; Streuli, S.; Giassi, A.; Daskalakis, G.; Uchida, K.; Kaestli, H. C.; Blekman, F.; Narain, M.; Naseri, M.; Voirin, E.; Nussbaum, T.; Reid, I. D.; Tsirou, A.; Beaumont, W.; Martina, S.; Magnan, A. M.; Jansova, M.; Klein, K.; Fernandez, M.; Androsov, K.; Moya, D.; Virto, A. L.; Remortel, N.; Verlaat, B.; Mills, C.; Iashvili, I.; Hrubec, J.; Siklér, F.; Lander, R.; Gouskos, L.; Postolache, V.; Cecchi, C.; Vila, I.; Kasieczka, G.; Chanon, N.; Schwering, G.; Sguazzoni, G.; Moya, M.; Butz, E.; Mannelli, M.; Bakhshiansohi, H.; Chen, P. H.; Miller, D. H.; Modak, A.; Dell'Orso, R.; Kaplon, J.; Lenzi, Th.; Kiesel, K. M.; Contreras-Campana, C.; Spilbeeck, A.; Checcucci, B.; Mitchell, T.; Betchart, B.; Ionica, M.; Rose, P.; Chaves, J.; Maggi, G.; Chramowicz, J.; Chertok, M.; Anderson, I.; Moll, M.; Della Porta, G. Zevi; Latino, G.; Delannoy, A. G.; Sandoval Gonzalez, I. D.; Cooper, W. E.

doi:10.1140/epjc/s10052-017-5115-z

Journal Article

PUBDB-2017-10157

Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Adam, W. ; Bergauer, T. ; Brondolin, E. ; Dragicevic, M. ; Friedl, M.Extern* ; Frühwirth, R. ; Hoch, M. ; Hrubec, J. ; König, A. ; Steininger, H. ; Waltenberger, W. ; Alderweireldt, S. ; Beaumont, W. ; Janssen, X. ; Lauwers, J. ; Mechelen, P. ; Remortel, N. ; Spilbeeck, A. ; Beghin, D. ; Brun, H. ; Clerbaux, B. ; Delannoy, H. ; Lentdecker, G. ; Fasanella, G. ; Favart, L. ; Goldouzian, R. ; Grebenyuk, A.DESY* ; Karapostoli, G. ; Lenzi, T. ; Léonard, A. ; Luetic, J. ; Postiau, N. ; Seva, T. ; Vanlaer, P. ; Vannerom, D. ; Wang, Q. ; Zhang, F. ; Zeid, S. A. ; Blekman, F. ; Bruyn, I. ; Clercq, J. ; D'Hondt, J. ; Deroover, K. ; Lowette, S. ; Moortgat, S. ; Moreels, L. ; Python, Q. ; Skovpen, K. ; Mulders, P. ; Parijs, I. ; Bakhshiansohi, H. ; Bondu, O. ; Brochet, S. ; Bruno, G. ; Caudron, A. ; Delaere, C. ; Delcourt, M. ; Visscher, S. ; Francois, B. ; Giammanco, A. ; Jafari, A. ; Komm, M. ; Krintiras, G. ; Lemaitre, V. ; Magitteri, A. ; Mertens, A. ; Michotte, D. ; Musich, M. ; Piotrzkowski, K. ; Quertenmont, L. ; Szilasi, N. ; Marono, M. V. ; Wertz, S. ; Beliy, N. ; Caebergs, T. ; Daubie, E. ; Hammad, G. H. ; Härkönen, J. ; Lampén, T. ; Luukka, P. ; Peltola, T. ; Tuominen, E. ; Tuovinen, E. ; Eerola, P. ; Tuuva, T. ; Baulieu, G. ; Boudoul, G. ; Caponetto, L. ; Combaret, C. ; Contardo, D. ; Dupasquier, T. ; Gallbit, G. ; Lumb, N. ; Mirabito, L. ; Perries, S. ; Donckt, M. ; Viret, S. ; Agram, J. L. ; Andrea, J. ; Bloch, D. ; Bonnin, C. ; Brom, J. M. ; Chabert, E. ; Chanon, N. ; Charles, L. ; Conte, E. ; Fontaine, J.-C. ; Gross, L. ; Hosselet, J. ; Jansova, M. ; Tromson, D. ; Autermann, C. ; Feld, L. ; Karpinski, W. ; Kiesel, K. M. ; Klein, K. ; Lipinski, M. ; Ostapchuk, A. ; Pierschel, G. ; Preuten, M. ; Rauch, M. ; Schael, S. ; Schomakers, C.RWTH* ; Schulz, J. ; Schwering, G. ; Wlochal, M. ; Zhukov, V. ; Pistone, C. ; Fluegge, G. ; Kuensken, A. ; Pooth, O. ; Stahl, A. ; Aldaya, M.DESY* ; Asawatangtrakuldee, C. ; Beernaert, K. ; Bertsche, D. ; Contreras-Campana, C. ; Eckerlin, G.DESY* ; Eckstein, D. ; Eichhorn, T.DESY* ; Gallo, E.DESY* ; Garay Garcia, J.DESY* ; Hansen, K. ; Haranko, M. ; Harb, A. ; Hauk, J. ; Keaveney, J.DESY* ; Kalogeropoulos, A. ; Kleinwort, C.DESY* ; Lohmann, W. ; Mankel, R.DESY* ; Maser, H. ; Mittag, G. ; Muhl, C.DESY* ; Mussgiller, A. ; Perrey, H.DESY* ; Pitzl, D. ; Reichelt, O.DESY* ; Savitskyi, M. ; Schuetze, P. ; Spannagel, S.DESY* ; Walsh, R. ; Zuber, A. ; Biskop, H. ; Buhmann, P. ; Centis-Vignali, M. ; Garutti, E. ; Haller, J. ; Hoffmann, M. ; Junkes, A. ; Klanner, R.Extern* ; Lapsien, T. ; Matysek, M. ; Perieanu, A.Extern* ; Scharf, C.Extern* ; Schleper, P.Extern* ; Schmidt, A. ; Schwandt, J. ; Sonneveld, J.Extern* ; Steinbrück, G.Extern* ; Vormwald, B.Extern* ; Wellhausen, J. ; Abbas, M. ; Amstutz, C. ; Barvich, T. ; Barth, C. ; Boegelspacher, F. ; Boer, W. ; Butz, E. ; Casele, M. ; Colombo, F. ; Dierlamm, A. ; Freund, B. ; Hartmann, F. ; Heindl, S. ; Husemann, U. ; Kornmeyer, A. ; Kudella, S. ; Muller, T. ; Simonis, H. J. ; Steck, P. ; Weber, M. ; Weiler, T. ; Anagnostou, G. ; Asenov, P. ; Assiouras, P. ; Daskalakis, G. ; Kyriakis, A. ; Loukas, D. ; Paspalaki, L. ; Siklér, F. ; Veszprémi, V. ; Bhardwaj, A. ; Dalal, R. ; Jain, G. ; Ranjan, K. ; Bakhshiansohl, H. ; Behnamian, H. ; Khakzad, M. ; Naseri, M. ; Cariola, P. ; Creanza, D. ; Palma, M. ; Robertis, G. ; Fiore, L. ; Franco, M. ; Loddo, F. ; Sala, G. ; Silvestris, L. ; Maggi, G. ; My, S. ; Selvaggi, G. ; Albergo, S. ; Cappello, G. ; Chiorboli, M. ; Costa, S. ; Mattia, A. ; Giordano, F. ; Potenza, R. ; Saizu, M. A. ; Tricomi, A. ; Tuve, C. ; Barbagli, G. ; Brianzi, M. ; Ciaranfi, R. ; Ciulli, V. ; Civinini, C. ; D'Alessandro, R. ; Focardi, E. ; Latino, G. ; Lenzi, P. ; Meschini, M. ; Paoletti, S. ; Russo, L. ; Scarlini, E. ; Sguazzoni, G. ; Strom, D. ; Viliani, L. ; Ferro, F. ; Lo Vetere, M. ; Robutti, E. ; Dinardo, M. E. ; Fiorendi, S. ; Gennai, S. ; Malvezzi, S. ; Manzoni, R. A. ; Menasce, D. ; Moroni, L. ; Pedrini, D. ; Azzi, P. ; Bacchetta, N. ; Bisello, D. ; Dall'Osso, M. ; Pozzobon, N. ; Tosi, M. ; Canio, F. ; Gaioni, L. ; Manghisoni, M. ; Nodari, B. ; Riceputi, E. ; Re, V. ; Traversi, G. ; Comotti, D. ; Ratti, L. ; Alunni Solestizi, L. ; Biasini, M. ; Bilei, G. M. ; Cecchi, C.Extern* ; Checcucci, B. ; Ciangottini, D. ; Fanò, L. ; Gentsos, C. ; Ionica, M. ; Leonardi, R. ; Manoni, E.Extern* ; Mantovani, G. ; Marconi, S. ; Mariani, V. ; Menichelli, M. ; Modak, A. ; Morozzi, A. ; Moscatelli, F. ; Passeri, D. ; Placidi, P. ; Postolache, V. ; Rossi, A. ; Saha, A. ; Santocchia, A. ; Storchi, L. ; Spiga, D. ; Androsov, K. ; Azzurri, P. ; Arezzini, S. ; Bagliesi, G. ; Basti, A. ; Boccali, T. ; Borrello, L. ; Bosi, F. ; Castaldi, R. ; Ciampa, A. ; Ciocci, M. A. ; Dell'Orso, R. ; Donato, S. ; Fedi, G. ; Giassi, A. ; Grippo, M. T. ; Ligabue, F. ; Lomtadze, T. ; Magazzu, G. ; Martini, L. ; Mazzoni, E.Extern* ; Messineo, A. ; Moggi, A. ; Morsani, F. ; Palla, F. ; Palmonari, F. ; Raffaelli, F. ; Rizzi, A. ; Savoy-Navarro, A. ; Spagnolo, P. ; Tenchini, R. ; Tonelli, G. ; Venturi, A. ; Verdini, P. G. ; Bellan, R. ; Costa, M. ; Covarelli, R. ; Da Rocha Rolo, M. ; Demaria, N. ; Rivetti, A. ; Dellacasa, G. ; Mazza, G. ; Migliore, E. ; Monteil, E. ; Pacher, L. ; Ravera, F. ; Solano, A. ; Fernandez, M. ; Gomez, G. ; Jaramillo Echeverria, R. ; Moya, D. ; Gonzalez Sanchez, F. J. ; Vila, I.Extern* ; Virto, A. L. ; Abbaneo, D. ; Ahmed, I. ; Albert, E. ; Auzinger, G. ; Berruti, G. ; Bianchi, G. ; Blanchot, G. ; Bonnaud, J. ; Caratelli, A. ; Ceresa, D. ; Christiansen, J. ; Cichy, K. ; Daguin, J. ; D'Auria, A. ; Detraz, S. ; Deyrail, D. ; Dondelewski, O. ; Faccio, F. ; Frank, N. ; Gadek, T. ; Gill, K. ; Honma, A. ; Hugo, G. ; Jara Casas, L. M. ; Kaplon, J. ; Kornmayer, A. ; Kottelat, L. ; Kovacs, M. ; Krammer, M. ; Lenoir, P. ; Mannelli, M. ; Marchioro, A. ; Marconi, S. ; Mersi, S. ; Martina, S. ; Michelis, S. ; Moll, M. ; Onnela, A. ; Orfanelli, S. ; Pavis, S. ; Peisert, A. ; Pernot, J. F. ; Petagna, P. ; Petrucciani, G. ; Postema, H. ; Rose, P. ; Tropea, P. ; Troska, J. ; Tsirou, A. ; Vasey, F. ; Vichoudis, P. ; Verlaat, B. ; Zwalinski, L. ; Bachmair, F. ; Becker, R. ; Calafiori, D. ; Casal, B. ; Berger, P. ; Djambazov, L. ; Donega, M. ; Grab, C. ; Hits, D. ; Hoss, J. ; Kasieczka, G. ; Lustermann, W. ; Mangano, B. ; Marionneau, M. ; Martinez Ruiz del Arbol, P. ; Masciovecchio, M. ; Meinhard, M. ; Perozzi, L. ; Roeser, U. ; Starodumov, A. ; Tavolaro, V. ; Wallny, R. ; Zhu, D. ; Amsler, C. ; Bösiger, K. ; Caminada, L. ; Canelli, F. ; Chiochia, V. ; Cosa, A. ; Galloni, C. ; Hreus, T. ; Kilminster, B. ; Lange, C. ; Maier, R. ; Ngadiuba, J. ; Pinna, D. ; Robmann, P. ; Taroni, S. ; Yang, Y. ; Bertl, W. ; Deiters, K. ; Erdmann, W. ; Horisberger, R. ; Kaestli, H. C. ; Kotlinski, D. ; Langenegger, U. ; Meier, B. ; Rohe, T. ; Streuli, S. ; Chen, P. H. ; Dietz, C. ; Grundler, U. ; Hou, W. S. ; Lu, R. S. ; Moya, M. ; Cussans, D. ; Flacher, H. ; Goldstein, J. ; Grimes, M. ; Jacob, J. ; Seif El Nasr-Storey, S. ; Cole, J. ; Hoad, C. ; Hobson, P. ; Morton, A. ; Reid, I. D. ; Auzinger, G. ; Bainbridge, R. ; Dauncey, P. ; Hall, G. ; James, T. ; Magnan, A. M. ; Pesaresi, M. ; Raymond, D. M. ; Uchida, K. ; Coughlan, J. A. ; Harder, K. ; Ilic, J. ; Tomalin, I. R. ; Garabedian, A. ; Heintz, U. ; Narain, M. ; Nelson, J. ; Sagir, S. ; Speer, T. ; Swanson, J. ; Tersegno, D. ; Watson-Daniels, J. ; Chertok, M. ; Conway, J. ; Conway, R. ; Flores, C. ; Lander, R. ; Pellett, D. ; Ricci-Tam, F. ; Squires, M. ; Thomson, J. ; Yohay, R. ; Burt, K. ; Ellison, J. ; Hanson, G. ; Olmedo, M. ; Si, W. ; Yates, B. R. ; Gerosa, R. ; Sharma, V. ; Vartak, A. ; Yagil, A. ; Della Porta, G. Z. ; Dutta, V. ; Gouskos, L. ; Incandela, J. ; Kyre, S. ; Mullin, S. ; Patterson, A. ; Qu, H. ; White, D. ; Dominguez, A. ; Bartek, R. ; Cumalat, J. P. ; Ford, W. T. ; Jensen, F. ; Johnson, A. ; Krohn, M. ; Leontsinis, S. ; Mulholland, T. ; Stenson, K. ; Wagner, S. R. ; Apresyan, A. ; Bolla, G. ; Burkett, K. ; Butler, J. N. ; Canepa, A. ; Cheung, H. W. K. ; Chramowicz, J. ; Christian, D. ; Cooper, W. E. ; Deptuch, G. ; Derylo, G. ; Gingu, C. ; Grünendahl, S. ; Hasegawa, S. ; Hoff, J. ; Howell, J. ; Hrycyk, M. ; Jindariani, S. ; Johnson, M. ; Kahlid, F. ; Lei, C. M. ; Lipton, R. ; Lopes De Sá, R. ; Liu, T. ; Los, S. ; Matulik, M. ; Merkel, P. ; Nahn, S. ; Prosser, A. ; Rivera, R. ; Schneider, B.Extern* ; Sellberg, G. ; Shenai, A. ; Spiegel, L. ; Tran, N. ; Uplegger, L. ; Voirin, E. ; Berry, D. R.DESY* ; Chen, X. ; Ennesser, L. ; Evdokimov, A. ; Evdokimov, O. ; Gerber, C. E. ; Hofman, D. J. ; Makauda, S. ; Mills, C. ; Sandoval Gonzalez, I. D. ; Alimena, J. ; Antonelli, L. J. ; Francis, B. ; Hart, A. ; Hill, C. S. ; Parashar, N. ; Stupak, J. ; Bortoletto, D. ; Bubna, M. ; Hinton, N. ; Jones, M. ; Miller, D. H. ; Shi, X. ; Tan, P. ; Baringer, P. ; Bean, A. ; Khalil, S. ; Kropivnitskaya, A. ; Majumder, D. ; Wilson, G.Extern* ; Ivanov, A. ; Mendis, R. ; Mitchell, T. ; Skhirtladze, N. ; Taylor, R. ; Anderson, I. ; Fehling, D. ; Gritsan, A. ; Maksimovic, P. ; Martin, C. ; Nash, K. ; Osherson, M. ; Swartz, M. ; Xiao, M. ; Acosta, J. G. ; Cremaldi, L. M.Extern* ; Oliveros, S. ; Perera, L. ; Summers, D. ; Bloom, K. ; Claes, D. R. ; Fangmeier, C. ; Gonzalez Suarez, R. ; Monroy, J. ; Siado, J. ; Hahn, K. ; Sevova, S. ; Sung, K. ; Trovato, M. ; Bartz, E. ; Gershtein, Y. ; Halkiadakis, E. ; Kyriacou, S. ; Lath, A. ; Nash, K. ; Osherson, M. ; Schnetzer, S. ; Stone, R. ; Walker, M. ; Malik, S. ; Norberg, S. ; Ramirez Vargas, J. E. ; Alyari, M. ; Dolen, J. ; Godshalk, A. ; Harrington, C. ; Iashvili, I. ; Kharchilava, A. ; Nguyen, D. ; Parker, A. ; Rappoccio, S. ; Roozbahani, B. ; Alexander, J. ; Chaves, J. ; Chu, J. ; Dittmer, S. ; McDermott, K. ; Mirman, N. ; Rinkevicius, A. ; Ryd, A. ; Salvati, E. ; Skinnari, L. ; Soffi, L. ; Tao, Z. ; Thom, J. ; Tucker, J. ; Zientek, M. ; Akgün, B. ; Ecklund, K. M. ; Kilpatrick, M. ; Nussbaum, T. ; Zabel, J. ; Betchart, B. ; Covarelli, R. ; Demina, R. ; Hindrichs, O. ; Petrillo, G. ; Eusebi, R. ; Osipenkov, I. ; Perloff, A. ; Ulmer, K. A. ; Delannoy, A. G. ; D'Angelo, P. ; Johns, W. ; CMS Collaboration (Collaboration author)DESY*

2017
Springer Berlin

The European physical journal / C 77(8), 567 (2017) [10.1140/epjc/s10052-017-5115-z]

This record in other databases:

Please use a persistent id in citations: doi:10.1140/epjc/s10052-017-5115-z doi:10.3204/PUBDB-2017-10157

Abstract: The high luminosity upgrade of the Large Hadron Collider, foreseen for 2026, necessitates the replacement of the CMS experiment’s silicon tracker. The innermost layer of the new pixel detector will be exposed to severe radiation, corresponding to a 1 MeV neutron equivalent fluence of up to $\Phi _{eq} = 2 \times 10^{16}$ cm$^{-2}$ , and an ionising dose of ${\approx } 5$ MGy after an integrated luminosity of 3000 fb$^{-1}$ . Thin, planar silicon sensors are good candidates for this application, since the degradation of the signal produced by traversing particles is less severe than for thicker devices. In this paper, the results obtained from the characterisation of 100 and 200 $\mu $ m thick p-bulk pad diodes and strip sensors irradiated up to fluences of $\Phi _{eq} = 1.3 \times 10^{16}$ cm$^{-2}$ are shown.

Keyword(s): luminosity: upgrade ; detector: pixel ; CERN LHC Coll: upgrade ; luminosity: high ; semiconductor detector ; CMS ; tracking detector ; silicon