XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report

Abela, R.; Witte, K.; Schwarz, A.; Redlin, H.; Eckoldt, H. -J.; Hartrott, M.; Floettmann, K.; Fajardo, M.; Katalev, V.; Schilcher, T.; Tiedtke, K.; Baehr, J.; Singer, W.; Sombrowski, E.; Casalbuoni, S.; Hajdu, J.; Schneider, J.; Dipirro, G.; Kim, J. -W.; Brinkmann, R.; Racky, B.; Chen, J.; Nienhaus, A.; Chapman, H.; Lierl, H.; Gadwinkel, E.; Gerth, C.; Robinson, I.; Choroba, S.; Maslov, M.; Wenndorff, R.; Pagani, C.; Tallents, G.; Grabosch, H. -J.; Jaeschke, E.; Paparella, R.; Seller, P.; Piot, P.; Tsakov, I.; Kraemer, D.; Winter, A.; Sachwitz, M.; Cianchi, A.; Weddig, H.; Sandner, W.; Schroer, C.; Nunez, T.; Castro, P.; Napoly, O.; Kong, Q.; Simrock, S.; Gensch, U.; Thom, H.; Bratos, S.; Altucci, C.; Dobson, B.; Masciovecchio, C.; Quack, H.; Kienberger, R.; Wendt, M.; Chergui, M.; Grimm, O.; Plech, A.; Obier, F.; Schmidt, B.; Sytchev, V.; Rossbach, J.; Kozlov, O.; Kuhlmann, M.; Senf, F.; Wolf, A.; Vogel, J.; Prenting, J.; Stephan, F.; Syresin, E.; Sertore, D.; Decking, W.; Baboi, N.; Vogel, E.; Juha, L.; Brandt, A.; Collet, E.; Filipov, Y.; Vartaniants, I.; Marangos, J.; Golubeva, N.; Smith, R.; Techert, S.; Fateev, A.; Wulff, M.; Haenisch, L.; Huening, M.; Honkimäki, V.; Treusch, R.; Ihee, H.; Prat, S.; Petrosyan, B.; Prat, E.; Tolan, M.; Honkavaara, K.; Tsakanov, V.; Ramert, D.; Ilday, F. Ö.; Schulte-Schrepping, H.; Moeller, W. -D.; Schuch, R.; Shabunov, A.; Sellmann, D.; Wark, J. S.; Schäfer, J.; Stulle, F.; Nicolosi, P.; Castellano, M.; Trines, D.; Fominykh, B.; Ross, M.; Kim, Y.; McCormick, D.; Tschentscher, T.; Toral, F.; Sytchev, K.; Reschke, D.; Anfinrud, P.; Will, I.; Toleikis, S.; Schlarb, H.; Brück, H.; Monaco, L.; Ploenjes, E.; Johnson, S.; Schmueser, P.; Aghababyan, A.; Krause, B.; Han, J. H.; Tesch, N.; Klose, K.; Feldhaus, J.; Nagl, M.; Staack, M.; Ischebeck, R.; Kocharyan, V.; Vuilleumier, R.; French, M.; Wittenburg, K.; Grübel, G.; Riemann, S.; Froehlich, L.; Wochner, P.; Dehler, M.; García-Tabarés, L.; Seidel, M.; Celik, S.; Lilje, L.; David, C.; Edwards, H.; Gel'mukhanov, F.; Poletto, L.; Bostedt, C.; Wabnitz, H.; Bressler, C.; Delsim-Hashemi, H.; Kapitza, H.; Kostin, D.; Bohnet, I.; Lange, R.; Richter, D.; Matheisen, A.; Kook, W.; Zambolin, P.; Griogoryan, B.; Hahn, U.; Wohlenberg, T.; Miltchev, V.; Schmitz, M.; Petrosyan, L.; Schreiber, S.; Havlicek, J.; Roensch, J.; Saldin, E.; Gareta, J. J.; Matzen, O.; Schrader, S.; Catani, L.; Kammering, R.; Jablonka, M.; Lipka, D.; Ullrich, F. -R.; Blome, C.; Petersen, B.; Goerler, M.; Krasilnikov, M.; Loehl, F.; Jensen, J. -P.; Proch, D.; Laich, H.; Balandin, V.; Tischer, M.; Charalambidis, D.; Garvey, T.; Luong, M.; Rybnikov, V.; Minty, M.; Sinn, H.; Cavalleri, A.; Variola, A.; Möller, T.; Weiland, T.; Pöplau, G.; Becker, J.; Yurkov, M.; Zeitoun, P.; Bandelmann, R.; Pflueger, J.; Wanzenberg, R.; Larsson, M.; Steffen, B.; Lindenberg, A.; Riley, D.; Rehlich, K.; Remde, H.; Michelato, P.; Hacker, K.; Krzywinski, J.; Pugachov, D.; Lee, R. W.; Graeff, W.; Schneidmiller, E.; Noelle, D.; Bolzmann, A.; Faatz, B.; Carneiro, J. -P.; Kollewe, M.; Meyners, N.; Gutt, C.; Weise, H.; Duesterer, S.; Petrov, A.; Kaerntner, F.; Altarelli, M.; May, H. -J.; Brovko, O.; Schlott, V.; Ayvazyan, V.; Neubauer, G.; Frisch, J.; Kube, G.; van Rienen, U.; Zagorodnov, I.; Sorokin, A. A.; Clausen, M.; Bozhko, Y.; Stephenson, B.; Graafsma, H.; Maquet, A.; Zolotov, A.; Schloesser, M.; Sekutowicz, J.; Matyushevskiy, E.; Koerfer, M.; Howells, M. R.; Dohlus, M.; McNulty, I.; Oppelt, A.; Rosmej, F.; Khodyachykh, S.; Wichmann, R.; Amatuni, G.; Wojtkiewicz, J.; Meulen, P.; Eckhardt, A.; Limberg, T.; Mildner, N.; Krebs, O.; Reininger, R.; Koehler, W.; Hensler, O.; Staykov, L.; Schotte, F.; Jensch, K.; Ziemann, V.; Springate, E.; Keil, B.; Audebert, P.; Pedersen, H. B.; Danared, H.; Magne, C.; Leuschner, A.; Beutner, B.; Follath, R.; Zapfe, K.; Hott, T.; Ludwig, K.; Richter, M.

doi:10.3204/DESY_06-097

Book/Report

XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report

Abela, R. ; Aghababyan, A. ; Altarelli, M.Extern*XFEL* ; Altucci, C. ; Amatuni, G. ; Anfinrud, P. ; Audebert, P. ; Ayvazyan, V. ; Baboi, N.DESY* ; Baehr, J. ; Balandin, V.DESY* ; Bandelmann, R.DESY* ; Becker, J. ; Beutner, B.DESY* ; Blome, C. ; Bohnet, I.DESY* ; Bolzmann, A. ; Bostedt, C.Extern* ; Bozhko, Y. ; Brandt, A. ; Bratos, S. ; Bressler, C. ; Brovko, O. ; Brück, H. ; Carneiro, J. -. ; Casalbuoni, S. ; Castellano, M. ; Castro, P. ; Catani, L. ; Cavalleri, A.Extern* ; Celik, S. ; Chapman, H.CFEL*DESY* ; Charalambidis, D. ; Chen, J. ; Chergui, M. ; Choroba, S. ; Cianchi, A. ; Clausen, M. ; Collet, E. ; Danared, H. ; David, C. ; Decking, W. ; Dehler, M. ; Delsim-Hashemi, H. ; Dipirro, G. ; Dobson, B. ; Dohlus, M. ; Duesterer, S. ; Eckhardt, A. ; Eckoldt, H. -. ; Edwards, H. ; Faatz, B. ; Fajardo, M. ; Fateev, A. ; Feldhaus, J. ; Filipov, Y. ; Floettmann, K. ; Follath, R. ; Fominykh, B. ; French, M. ; Frisch, J. ; Froehlich, L. ; Gadwinkel, E. ; García-Tabarés, L. ; Gareta, J. J. ; Garvey, T. ; Gel'mukhanov, F. ; Gensch, U. ; Gerth, C. ; Goerler, M. ; Golubeva, N. ; Graafsma, H. ; Graeff, W. ; Grimm, O. ; Griogoryan, B. ; Grübel, G. ; Gutt, C. ; Hacker, K. ; Haenisch, L. ; Hahn, U. ; Hajdu, J. ; Han, J. H. ; Hartrott, M. ; Havlicek, J. ; Hensler, O. ; Honkavaara, K. ; Honkimäki, V. ; Hott, T. ; Howells, M. R. ; Huening, M. ; Ihee, H. ; Ilday, F. Ö. ; Ischebeck, R. ; Jablonka, M. ; Jaeschke, E. ; Jensch, K. ; Jensen, J. -. ; Johnson, S. ; Juha, L. ; Kaerntner, F. ; Kammering, R. ; Kapitza, H. ; Katalev, V. ; Keil, B. ; Khodyachykh, S. ; Kienberger, R. ; Kim, J. -. ; Kim, Y. ; Klose, K. ; Kocharyan, V. ; Koehler, W. ; Koerfer, M. ; Kollewe, M. ; Kong, Q. ; Kook, W. ; Kostin, D. ; Kozlov, O. ; Kraemer, D. ; Krasilnikov, M. ; Krause, B. ; Krebs, O. ; Krzywinski, J. ; Kube, G. ; Kuhlmann, M. ; Laich, H. ; Lange, R. ; Larsson, M. ; Lee, R. W. ; Leuschner, A. ; Lierl, H. ; Lilje, L. ; Limberg, T. ; Lindenberg, A. ; Lipka, D. ; Loehl, F. ; Ludwig, K. ; Luong, M. ; Magne, C. ; Maquet, A. ; Marangos, J. ; Masciovecchio, C. ; Maslov, M. ; Matheisen, A. ; Matyushevskiy, E. ; Matzen, O. ; May, H. -. ; McNulty, I. ; McCormick, D. ; Meulen, P. ; Meyners, N. ; Michelato, P. ; Mildner, N. ; Miltchev, V. ; Minty, M. ; Moeller, W. -. ; Möller, T. ; Monaco, L. ; Nagl, M. ; Napoly, O. ; Neubauer, G. ; Nicolosi, P. ; Nienhaus, A. ; Noelle, D. ; Nunez, T. ; Obier, F. ; Oppelt, A. ; Pagani, C. ; Paparella, R. ; Pedersen, H. B. ; Petersen, B. ; Petrosyan, B. ; Petrosyan, L. ; Petrov, A. ; Piot, P. ; Pflueger, J. ; Plech, A. ; Ploenjes, E. ; Poletto, L. ; Pöplau, G. ; Prat, E. ; Prat, S. ; Prenting, J. ; Proch, D. ; Pugachov, D. ; Quack, H. ; Racky, B. ; Ramert, D. ; Redlin, H. ; Rehlich, K. ; Reininger, R. ; Remde, H. ; Reschke, D. ; Richter, D. ; Richter, M. ; Riemann, S. ; Riley, D. ; Robinson, I. ; Roensch, J. ; Rosmej, F. ; Ross, M. ; Rossbach, J. ; Rybnikov, V. ; Sachwitz, M. ; Saldin, E. ; Sandner, W. ; Schäfer, J. ; Schilcher, T. ; Schlarb, H. ; Schloesser, M. ; Schlott, V. ; Schmidt, B. ; Schmitz, M. ; Schmueser, P. ; Schneider, J.CFEL*DESY* ; Schneidmiller, E. ; Schotte, F. ; Schrader, S. ; Schreiber, S. ; Schroer, C.DESY* ; Schuch, R. ; Schulte-Schrepping, H. ; Schwarz, A. ; Seidel, M. ; Sekutowicz, J. ; Seller, P. ; Sellmann, D. ; Senf, F. ; Sertore, D. ; Shabunov, A. ; Simrock, S.Extern* ; Singer, W.DESY* ; Sinn, H.Extern*XFEL* ; Smith, R. ; Sombrowski, E.DESY* ; Sorokin, A. A. ; Springate, E. ; Staack, M. ; Staykov, L. ; Steffen, B. ; Stephenson, B. ; Stephan, F.DESY* ; Stulle, F. ; Syresin, E. ; Sytchev, K. ; Sytchev, V. ; Tallents, G. ; Techert, S.DESY* ; Tesch, N. ; Thom, H. ; Tiedtke, K. ; Tischer, M. ; Tolan, M. ; Toleikis, S.DESY* ; Toral, F. ; Treusch, R.DESY* ; Trines, D. ; Tsakanov, V. ; Tsakov, I. ; Tschentscher, T.Extern*XFEL* ; Ullrich, F. -. ; van Rienen, U. ; Variola, A. ; Vartaniants, I. ; Vogel, E. ; Vogel, J. ; Vuilleumier, R. ; Wabnitz, H. ; Wanzenberg, R. ; Wark, J. S. ; Weddig, H. ; Weiland, T. ; Weise, H. ; Wendt, M. ; Wenndorff, R. ; Wichmann, R. ; Will, I. ; Winter, A. ; Witte, K. ; Wittenburg, K.Extern* ; Wochner, P. ; Wohlenberg, T. ; Wojtkiewicz, J. ; Wolf, A. ; Wulff, M. ; Yurkov, M. ; Zagorodnov, I. ; Zambolin, P. ; Zapfe, K. ; Zeitoun, P. ; Ziemann, V. ; Zolotov, A. ; Brinkmann, R.DESY* ; Grabosch, H. -.DESY* ; DESY

2006
DESY Hamburg
ISBN: 978-3-935702-17-1

Hamburg : DESY 1-646 (2006) [10.3204/DESY_06-097]

This record in other databases:

Please use a persistent id in citations: doi:10.3204/DESY_06-097 doi:10.3204/DESY_06-097

Report No.: DESY-06-097

Contributing Institute(s):

Research Program(s):

Facility (machine) XFEL (POF1-XFEL-20130405) (POF1-XFEL-20130405)

Experiment(s):

Facility (machine) XFEL

Appears in the scientific report 2006

Database coverage:
OpenAccess

Click to display QR Code for this record

The record appears in these collections:
Private Collections > >DESY > >FS > FS-PETRA
Private Collections > >XFEL.EU > Eur.XFEL
Document types > Reports > Reports
Document types > Books > Books
Public records
Publications database
OpenAccess

Record created 2012-09-14, last modified 2025-07-31

Similar records

OpenAccess:

PDF

PDF (PDFA)
External link:

Fulltext

Rate this document:

(Not yet reviewed)

Add to personal basket
Export as Author List with IDs BibTeX (UTF-8), EndNote XML, EndNote Text, RIS, MARC, Print MARC, MARCXML, DC,
Request correction
Submit fulltext

guest :: login PUBDB
		Search		Submit		Personalize Your alerts Your baskets Your searches		Help