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Measurement of the CKM matrix element $|V_{cb}|$ from $B^0\to D^{*-}\ell^ {+} \nu_\ell$ at Belle
Waheed, E. (Corresponding author)Extern* ; Urquijo, P.Extern* ; Ferlewicz, D.Extern* ; Adachi, I.Extern* ; Adamczyk, K. ; Ahn, J. K. ; Aihara, H.Extern* ; Al Said, S. ; Arinstein, K. ; Arita, Y. ; Asner, D. M.Extern* ; Atmacan, H. ; Aulchenko, V.Extern* ; Aushev, T. ; Ayad, R. ; Aziz, T.Extern* ; Babu, V.DESY* ; Badhrees, I. ; Bahinipati, S.Extern* ; Bakich, A. M. ; Ban, Y.Extern* ; Bansal, V.Extern* ; Barberio, E. ; Barrett, M. ; Bartel, W.DESY* ; Behera, P.Extern* ; Beleño, C. ; Belous, K.Extern* ; Berger, M. ; Bernlochner, F.Extern* ; Besson, D. ; Bhardwaj, V. ; Bhuyan, B.Extern* ; Bilka, T. ; Biswal, J. ; Bloomfield, T. ; Bobrov, A. ; Bondar, A.Extern* ; Bonvicini, G. ; Bozek, A. ; Bračko, M. ; Braun, N. ; Breibeck, F. ; Brodzicka, J. ; Browder, T. E.Extern* ; Cao, L.Extern* ; Caria, G. ; Červenkov, D.Extern* ; Chang, M.-C. ; Chang, P.Extern* ; Chao, Y. ; Cheaib, R. ; Chekelian, V. ; Chen, A. ; Chen, K.-F. ; Cheon, B. G.Extern* ; Chilikin, K.Extern* ; Chistov, R. ; Cho, H. 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J. ; Kimmel, T. ; Kindo, H. ; Kinoshita, K.Extern* ; Kleinwort, C. ; Klucar, J. ; Kobayashi, N. ; Kodyš, P. ; Koga, Y. ; Konno, T. ; Korpar, S. ; Kotchetkov, D. ; Kouzes, R. T. ; Križan, P.DESY* ; Kroeger, R. ; Krohn, J.-F. ; Krokovny, P. ; Kronenbitter, B. ; Kuhr, T.Extern* ; Kulasiri, R. ; Kumar, R.Extern* ; Kumita, T.Extern* ; Kurihara, E. ; Kuroki, Y. ; Kuzmin, A.Extern* ; Kvasnička, P. ; Kwon, Y.-J. ; Lai, Y.-T. ; Lalwani, K. ; Lange, J. S.Extern* ; Lee, I. S. ; Lee, J. K. ; Lee, J. Y. ; Lee, S. C. ; Leitgab, M. ; Leitner, R. ; Levit, D. ; Lewis, P.Extern* ; Li, C. H. ; Li, H. ; Li, L. K.Extern* ; Li, Y. ; Li, Y. B. ; Li Gioi, L. ; Libby, J.Extern* ; Limosani, A. ; Liptak, Z. ; Liu, C. ; Liu, Y.Extern* ; Liventsev, D.Extern* ; Loos, A. ; Louvot, R. ; Lu, P.-C. ; Lubej, M. ; Luo, T. ; MacNaughton, J. ; Masuda, M. ; Matsuda, T. ; Matvienko, D.Extern* ; Matyja, A. ; McNeil, J. T. ; Merola, M. ; Metzner, F. ; Mikami, Y. ; Miyabayashi, K.Extern* ; Miyachi, Y. ; Miyake, H. ; Miyata, H.Extern* ; Miyazaki, Y. ; Mizuk, R.Extern* ; Mohanty, G. B.Extern* ; Mohanty, S. ; Moon, H. K. ; Moon, T. J. ; Mori, T. ; Morii, T. ; Moser, H.-G. ; Mrvar, M. ; Müller, T. ; Muramatsu, N. ; Mussa, R. ; Nagasaka, Y. ; Nakahama, Y. ; Nakamura, I.Extern* ; Nakamura, K. R. ; Nakano, E.Extern* ; Nakano, H. ; Nakano, T.Extern* ; Nakao, M.Extern* ; Nakayama, H. ; Nakazawa, H.Extern* ; Nanut, T.Extern* ; Nath, K. J. ; Natkaniec, Z.Extern* ; Nayak, M.Extern* ; Neichi, K. ; Ng, C. ; Niebuhr, C.DESY* ; Niiyama, M.Extern* ; Nisar, N. K. ; Nishida, S.Extern* ; Nishimura, K.Extern* ; Nitoh, O. ; Ogawa, A. ; Ogawa, K. ; Ogawa, S. ; Ohshima, T. ; Okuno, S. ; Olsen, S. L. ; Ono, H. ; Ono, Y. ; Onuki, Y.Extern* ; Ostrowicz, W.Extern* ; Oswald, C.Extern* ; Ozaki, H.Extern* ; Pakhlov, P. ; Pakhlova, G.Extern* ; Pal, B.Extern* ; Palka, H. ; Panzenböck, E. ; Pardi, S. ; Park, C.-S. ; Park, C. W. ; Park, H. ; Park, K. S. ; Park, S.-H. ; Paul, S.Extern* ; Pavelkin, I. ; Pedlar, T. K.Extern* ; Peng, T. ; Pesántez, L. ; Pestotnik, R. ; Peters, M. ; Piilonen, L. E.Extern* ; Popov, V. ; Prasanth, K. ; Prencipe, E. ; Prim, M. ; Prothmann, K. ; Purohit, M. V. ; Rabusov, A. ; Rauch, J. ; Reisert, B. ; Resmi, P. K. ; Ribežl, E. ; Ritter, M.Extern* ; Rorie, J. ; Rostomyan, A.DESY* ; Rozanska, M.Extern* ; Rummel, S. ; Russo, G. ; Sahoo, D. ; Sahoo, H.Extern* ; Saito, T. ; Sakai, Y.Extern* ; Salehi, M. ; Sandilya, S. ; Santel, D. ; Santelj, L.Extern* ; Sanuki, T.Extern* ; Sasaki, J. ; Sasao, N. ; Sato, Y.Extern* ; Savinov, V.Extern* ; Schlüter, T.Extern* ; Schneider, O. ; Schnell, G.Extern* ; Schönmeier, P. ; Schram, M. ; Schueler, J. ; Schwanda, C. ; Schwartz, A. J. ; Schwenker, B.Extern* ; Seidl, R. ; Seino, Y. ; Semmler, D. ; Senyo, K. ; Seon, O. ; Seong, I. S. ; Sevior, M. E.Extern* ; Shang, L. ; Shapkin, M.Extern* ; Shebalin, V.Extern* ; Shen, C. P.Extern* ; Shibata, T.-A. ; Shibuya, H.Extern* ; Shinomiya, S. ; Shiu, J.-G. ; Shwartz, B.Extern* ; Sibidanov, A.Extern* ; Simon, F.Extern* ; Singh, J. B.Extern* ; Sinha, R.Extern* ; Smith, K. ; Sokolov, A. ; Soloviev, Y.DESY* ; Solovieva, E. ; Stanič, S. ; Starič, M.Extern* ; Steder, M.DESY* ; Stottler, Z. ; Strube, J. F. ; Stypula, J.Extern* ; Sugihara, S. ; Sugiyama, A. ; Sumihama, M.Extern* ; Sumisawa, K.Extern* ; Sumiyoshi, T.Extern* ; Sutcliffe, W. ; Suzuki, K. ; Suzuki, K. ; Suzuki, S. ; Suzuki, S. Y.Extern* ; Suzuki, Z. ; Takeichi, H. ; Takizawa, M. ; Tamponi, U.Extern* ; Tanaka, M.Extern* ; Tanaka, S.Extern* ; Tanida, K.Extern* ; Taniguchi, N.Extern* ; Tao, Y. ; Taylor, G. N. ; Tenchini, F.DESY* ; Teramoto, Y. ; Tikhomirov, I. ; Trabelsi, K.Extern* ; Tsuboyama, T.Extern* ; Uchida, M.Extern* ; Uchida, T.Extern* ; Ueda, I. ; Uehara, S. ; Uglov, T. ; Unno, Y.Extern* ; Uno, S.Extern* ; Ushiroda, Y.Extern* ; Usov, Y.Extern* ; Vahsen, S. 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2019
American Physical Society
Melville, NY
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Please use a persistent id in citations: doi:10.1103/PhysRevD.100.052007 doi:10.3204/PUBDB-2020-00226
Report No.: arXiv:1809.03290
Abstract: We present a new measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element |Vcb| from B0→D*-ℓ+νℓ decays, reconstructed with the full Belle data set of 711 fb−1 integrated luminosity. Two form factor parametrizations, originally conceived by the Caprini-Lellouch-Neubert (CLN) and the Boyd, Grinstein and Lebed (BGL) groups, are used to extract the product F(1)ηEW|Vcb| and the decay form factors, where F(1) is the normalization factor and ηEW is a small electroweak correction. In the CLN parametrization we find F(1)ηEW|Vcb|=(35.06±0.15±0.56)×10-3, ρ2=1.106±0.031±0.007, R1(1)=1.229±0.028±0.009, R2(1)=0.852±0.021±0.006. For the BGL parametrization we obtain F(1)ηEW|Vcb|=(34.93±0.23±0.59)×10-3, which is consistent with the world average when correcting for F(1)ηEW. The branching fraction of B0→D*-ℓ+νℓ is measured to be B(B0→D*-ℓ+νℓ)=(4.90±0.02±0.16)%. We also present a new test of lepton flavor universality violation in semileptonic B decays, B(B0→D*-e+ν)B(B0→D*-μ+ν)=1.01±0.01±0.03. The errors quoted correspond to the statistical and systematic uncertainties, respectively. This is the most precise measurement of F(1)ηEW|Vcb| and form factors to date and the first experimental study of the BGL form factor parametrization in an experimental measurement.
Keyword(s): electron positron: annihilation ; electron positron: colliding beams ; Upsilon(10570): electroproduction ; B: pair production ; anti-B0: semileptonic decay ; form factor: parametrization ; decay: form factor ; electroweak interaction: correction ; Heavy Quark Effective Theory ; CKM matrix ; BELLE ; KEK-B ; statistical analysis ; data analysis method ; experimental results ; anti-B0 --> D*(2010) lepton antineutrino
Note:
Contributing Institute(s):
- beauftragt von FH (Belle)
Research Program(s):
- 611 - Fundamental Particles and Forces (POF3-611) (POF3-611)
Experiment(s):
- KEK: BELLE I/II
Appears in the scientific report
2019
Database coverage:
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