TY  - JOUR
AU  - Pezzoli, F.
AU  - Bonera, E.
AU  - Grilli, E.
AU  - Guzzi, M.
AU  - Sanguinetti, S.
AU  - Chrastina, D.
AU  - Isella, G.
AU  - von Känel, H.
AU  - Wintersberger, E.
AU  - Stangl, J.
AU  - Bauer, G.
AU  - DESY
TI  - Raman spectroscopy determination of composition and strain in Si<sub>1−x</sub>Ge<sub>x</sub>/Si heterostructures
JO  - Materials science in semiconductor processing
VL  - 11
SN  - 1369-8001
CY  - Amsterdam [u.a.]
PB  - Elsevier Science
M1  - PHPPUBDB-12804
SP  - 279-284
PY  - 2008
LB  - PUB:(DE-HGF)16
UR  - <Go to ISI:>//WOS:000271700600026
DO  - DOI:10.1016/j.mssp.2008.09.012
UR  - https://bib-pubdb1.desy.de/record/85955
ER  -