%0 Electronic Article
%A Belous, K.
%A Shapkin, M.
%A Sokolov, A.
%A Adachi, I.
%A Aihara, H.
%A Asner, D. M.
%A Aulchenko, V.
%A Bakich, A. M.
%A Bala, A.
%A Bhuyan, B.
%A Bobrov, A.
%A Bondar, A.
%A Bonvicini, G.
%A Bozek, A.
%A Bračko, M.
%A Browder, T. E.
%A Červenkov, D.
%A Chekelian, V.
%A Chen, A.
%A Cheon, B. G.
%A Chilikin, K.
%A Chistov, R.
%A Cho, K.
%A Chobanova, V.
%A Choi, Y.
%A Cinabro, D.
%A Dalseno, J.
%A Doležal, Z.
%A Dutta, D.
%A Eidelman, S.
%A Epifanov, D.
%A Farhat, H.
%A Fast, J. E.
%A Ferber, T.
%A Gaur, V.
%A Ganguly, S.
%A Garmash, A.
%A Gillard, R.
%A Goh, Y. M.
%A Golob, B.
%A Haba, J.
%A Hara, T.
%A Hayasaka, K.
%A Hayashii, H.
%A Hoshi, Y.
%A Hou, W. -S.
%A Iijima, T.
%A Inami, K.
%A Ishikawa, A.
%A Itoh, R.
%A Iwashita, T.
%A Jaegle, I.
%A Julius, T.
%A Kato, E.
%A Kichimi, H.
%A Kiesling, C.
%A Kim, D. Y.
%A Kim, H. J.
%A Kim, J. B.
%A Kim, M. J.
%A Kim, Y. J.
%A Kinoshita, K.
%A Ko, B. R.
%A Kodyš, P.
%A Korpar, S.
%A Križan, P.
%A Krokovny, P.
%A Kuhr, T.
%A Kuzmin, A.
%A Kwon, Y. -J.
%A Lange, J. S.
%A Lee, S. -H.
%A Libby, J.
%A Liventsev, D.
%A Lukin, P.
%A Matvienko, D.
%A Miyata, H.
%A Mizuk, R.
%A Mohanty, G. B.
%A Mori, T.
%A Mussa, R.
%A Nagasaka, Y.
%A Nakano, E.
%A Nakao, M.
%A Nayak, M.
%A Nedelkovska, E.
%A Ng, C.
%A Nisar, N. K.
%A Nishida, S.
%A Nitoh, O.
%A Ogawa, S.
%A Okuno, S.
%A Olsen, S. L.
%A Ostrowicz, W.
%A Pakhlova, G.
%A Park, C. W.
%A Park, H.
%A Park, H. K.
%A Pedlar, T. K.
%A Pestotnik, R.
%A Petrič, M.
%A Piilonen, L. E.
%A Ritter, M.
%A Röhrken, M.
%A Rostomyan, A.
%A Ryu, S.
%A Sahoo, H.
%A Saito, T.
%A Sakai, Y.
%A Sandilya, S.
%A Santel, D.
%A Santelj, L.
%A Sanuki, T.
%A Savinov, V.
%A Schneider, O.
%A Schnell, G.
%A Schwanda, C.
%A Semmler, D.
%A Senyo, K.
%A Seon, O.
%A Shebalin, V.
%A Shen, C. P.
%A Shibata, T. -A.
%A Shiu, J. -G.
%A Shwartz, B.
%A Sibidanov, A.
%A Simon, F.
%A Sohn, Y. -S.
%A Stanič, S.
%A Starič, M.
%A Steder, M.
%A Sumiyoshi, T.
%A Tamponi, U.
%A Tatishvili, G.
%A Teramoto, Y.
%A Trabelsi, K.
%A Tsuboyama, T.
%A Uchida, M.
%A Uehara, S.
%A Uglov, T.
%A Unno, Y.
%A Uno, S.
%A Usov, Y.
%A Vahsen, S. E.
%A Van Hulse, C.
%A Vanhoefer, P.
%A Varner, G.
%A Varvell, K. E.
%A Vinokurova, A.
%A Vorobyev, V.
%A Wagner, M. N.
%A Wang, C. H.
%A Wang, P.
%A Watanabe, M.
%A Watanabe, Y.
%A Williams, K. M.
%A Won, E.
%A Yamaoka, J.
%A Yamashita, Y.
%A Yashchenko, S.
%A Yook, Y.
%A Yuan, C. Z.
%A Zhang, Z. P.
%A Zhilich, V.
%A Zupanc, A.
%T Measurement of the τ-lepton lifetime at Belle
%N Belle preprint 2013-26
%M DESY-2013-01386
%M Belle preprint 2013-26
%D 2013
%Z 17 pages, 4 figures. Submitted to Phys. Rev. Lett on November 1, 2013
%X The lifetime of the τ-lepton is measured using the process e<sup>+</sup>e<sup>−</sup>→τ<sup>+</sup>τ<sup>−</sup>, where both τ-leptons decay to 3πν<sub>τ</sub>. The result for the mean lifetime, based on 711 fb<sup>−1</sup> of data collected with the Belle detector at the Υ(4S) resonance and 60 MeV below, is τ =  (290.17 ±0.53(stat.) ±0.33(syst.))·10<sup>−15</sup> s. The first measurement of the lifetime difference between τ<sup>+</sup> and τ<sup>−</sup> is performed. The upper limit on the relative lifetime difference between positive and negative τ-leptons is |∆τ| / τ <  7.0 ×10<sup>−3</sup> at 90
%F PUB:(DE-HGF)25 ; PUB:(DE-HGF)15
%9 PreprintInternal Report
%U https://bib-pubdb1.desy.de/record/155266