DFG project G:(GEPRIS)250702138

Nyquist-Rate AD-Wandler mit signalverlaufsabhängiger Abtastrate

CoordinatorProfessor Dr.-Ing. Dirk Killat
Grant period2014 - 2019
Funding bodyDeutsche Forschungsgemeinschaft
 DFG
IdentifierG:(GEPRIS)250702138

Note: Das Projekt soll Lösungen für die Dynamisierung der Abtastrate in Nyquist-Rate ADCs liefern. Im Vordergrund stehen hierbei Verfahren, die den analogen Aufwand beim Vorverstärker und beim Quantisierier nicht erhöhen, also z. B. keine zusätzlichen Komparatoren für eine Transientenerkennung des Eingangssignals erfordern. Ansatzpunkt ist der zeitliche Verlauf des Ausgangssignals des Quantisierers in ADCs mit einem Rückkoppel-DAC.Das zweite Ziel ist eine möglichst mathematische Beschreibung und Modellierung der Schleife und der Ablaufsteuerung in asynchronen ADCs. Dabei werden die zuvor entwickelten und modellierten Funktionsblöcke zu einem Gesamtsystem zusammengeführt. Aus der Modellierung der Schleife sollen Stabilitätskriterien abgeleitet sowie dem Anwender ein Regelwerk zum Design von asynchronen ADCs in die Hand gegeben werden.Im dritten Schritt sollen die theoretischen Arbeiten mit einem Demonstrator überprüft werden. Ziel ist hier nicht primär einen ADC nur mit einer sehr guten FOM zu entwickeln, sondern einen Baukasten für ADCs mit signalverlaufsabhängiger Abtastrate bereitzustellen. Um das Risiko beim Tapeout des Testchips zu minimieren, soll der ADC in modularer Weise aufgebaut sein, um verschiedene Konfigurationen und Evaluierungsmöglichkeiten zu bieten. Für höchste Flexibilität sorgt hier die Implementierung des Digitalteils in einem FPGA.Durch den modularen Aufbau des Testchips mit mehreren analogen Konfigurationen, der bisher vorliegenden Erfahrung im Design von ADC-Testchips, und bis zum Tapeout dieses Projektes vorliegenden Erfahrung im 65nm-Design, kann zumindest eine grundlegende Evaluierung und ein wissenschaftlicher Erkenntnisgewinn sichergestellt werden.Bei der Evaluierung des Testchips und der Auswertung der Ergebnisse wird ein besonderer Wert darauf gelegt, die möglichen Abweichungen im ursprünglichen Modell einzubauen und die tatsächlichen Messungen mit dem Modell in Deckung zu bringen. Hierdurch wird sichergestellt, dass alle Effekte, die zu einer Abweichung von der idealen Charakteristik führen, auch verstanden werden.
   

Recent Publications

There are no publications


 Record created 2023-02-02, last modified 2024-09-27



Rate this document:

Rate this document:
1
2
3
 
(Not yet reviewed)